品牌：SHSIWI/思为
测量范围：350*200*110mm
测量精度：1um
供应：198
发货：10天内
| 测量范围 | 350*200*110mm |
|---|---|
| 测量精度 | 1um |
| 尺寸 | 1350*950*130 |
| 分辨率 | 1um |
| 类型 | 水浸超声扫描显微镜-银点钎着率 |
| 重量 | 150 |
| 品牌 | SHSIWI/思为 |
| 型号 | YTC100 |
| 加工定制 | 否,是 |
水浸超声波扫描显微镜无损检测系统 一体机、桌面机超声显微镜 C扫描焊接低压电器银点钎着率、半导体空洞率、金刚石焊接率、裂痕无损检测机C-SAM检测设备
可为客户提供超声无损检测仪器定制、检测标准定制、检测方案及夹具定制服务。现已形成C100标准机型、C200大构件机型、C300高速机型及C400小型机，产品已通过CE、CSA认证，可满足低压电器焊接质量检测、金刚石缺陷和厚度测量、水冷板散热器检测、半导体封测等行业需求。
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